【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Latch-uptest
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.闭锁试验
【标准号】:BSEN60749-29-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-03-09
【实施或试行日期】:2004-03-09
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:多语种的;半导体器件;气候试验;试验;半导体;耐力;电子设备及元件;闭锁;电气工程;术语;压电器件;过电压试验;尺寸;环境试验;机械试验;频率稳定;集成电路;电子工程;元部件;谐振器;介电性能;压电的;介质;定义;电学测量
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:SleevingsEmbodyingFabricusedforElectricalInsulation;Dimensions
【原文标准名称】:含有织物的绝缘软管.尺寸
【标准号】:DIN40620Bb.1-1959
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: